Aus Produktionstest wird eine Systemfunktion – Neue Herausforderungen und Möglichkeiten für den Test von Halbleitern im AutomobilChiplets

Jürgen Alt, Infineon Technologies

Über den Vortrag:

Die klassische Aufgabe des Produktionstests ist die Identifikation von fehlerhaften Bausteinen vor Auslieferung zum Kunden. Speziell für Halbleiterprodukte, die im Automobil eingesetzt werden, werden Design-for-Test Maßnahmen bereits heute im Feld eingesetzt. Auf Grund der steigenden Anforderungen an Sicherheit und Zuverlässigkeit für das Automobil der Zukunft nimmt die Bedeutung von Tests während der Lebensdauer zu. Methoden aus dem Bereich des Silicon Lifecycle Managements werden hier zur Optimierung der Kosten entlang der Lieferkette beitragen.

Curriculum Vitae

Jürgen Alt ist seit über 25 Jahren in der Halbleiterindustrie mit Testfreundlichem Schaltungsentwurf (Design-for-Test, DfT), Produktionstest und Zuverlässigkeit beschäftigt. Aktuell ist er für DfT und Test der zukünftigen Automotive Microcontroller Plattform  von Infineon zuständig.
Er ist Lehrbeauftragter an der Friedrich-Alexander Universität Erlangen-Nürnberg für das Fach Testfreundlicher Schaltungsentwurf.