Parachute: Elektromagnetische Zuverlässigkeit und effizienter TopDown-Entwurf für optimale Systemeigenschaften nanoelektronischer Komponenten

Dieses Projekt behandelt das wachsende Problem der Störanfälligkeit, das zusammen mit den parasitären Effekten neuer IC-Prozesse die Zuverlässigkeit moderner elektronischer Systeme beeinflusst. Nanometer-Schaltungen, Mikroelektronik, Mikrosytemtechnik und Leistungselektronik-Systeme sind bereits feste Bestandteile unseres täglichen Lebens. Dennoch sind diese Systeme diversen natürlichen und künstlichen Störungen ausgesetzt, die aus verschiedensten Quellen stammen. Auch können solche Systeme zur Quelle der sie selbst beeinflussenden Störungen werden. Das Projekt erforscht Maßnahmen zur Verbesserung der Zuverlässigkeit von Anwendungen in unterschiedlichen Marktsegmenten, die auf diesen elektronischen Systemen basieren.

Verwendete Abkürzungen